Spectrométrie de masse des ions secondairesSpectrométrie de masse des ions secondaires
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Ce qu’en dit Wikipédia
La spectrométrie de masse des ions secondaires est un procédé d'analyse de surface connu sous le nom de SIMS, d'après l'acronyme anglais signifiant secondary ion mass spectrometry, qui consiste à bombarder la surface de l'échantillon à analyser avec un faisceau d'ions.
Extrait de l’article « Spectrométrie de masse des ions secondaires » de Wikipédia, sous licence CC BY-SA 4.0. Lire l’article sur Wikipédia
Image : Auteur inconnu, CC BY-SA 3.0, via Wikimedia Commons.
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