Microscope ionique à effet de champMicroscope ionique à effet de champ
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Ce qu’il faut savoir
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Ce qu’en dit Wikipédia
Un microscope ionique à effet de champ (ou Field Ion Microscope, FIM en anglais) a été développé par E. W. Müller en 1951, et repose sur l’émission par effet de champ d’un gaz « image » à la surface d’un échantillon. Un champ électrique intense est créé par effet de pointe à l’extrémité d’un matériau.
Extrait de l’article « Microscope ionique à effet de champ » de Wikipédia, sous licence CC BY-SA 4.0. Lire l’article sur Wikipédia
Image : Atomsondenbenutzer, Public domain, via Wikimedia Commons.
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